Publikationen von Matthias Scheffler

Bernholc, J., N.O. Lipari, S.T. Pantelides und M. Scheffler: Theory of point defects and deep impurities in semiconductors. In: Defects and Radiation Effects in Semiconductors. (Hrsg.): R.R. Hasiguti. Institute of Physics, London, 1–17 (1981).

Scheffler, M., K. Kambe, F. Forstmann und K. Jacobi: Angle-resolved photoemission of the oxygen overlayer on Ni,(001): Part 1 (Calculations). In: Proceedings of the 7th International Vacuum Congress and the 3rd International Conference on Solid Surfaces of the International Union for Vacuum Science, Technique and Applications. (Hrsg.): R. Dobrozemsky., 2223–2226 (1977).

Scheffler, M., K. Kambe und F. Forstmann: Energy and angle-resolved photoemission. In: Proceedings International Symposium on Photoemission. (Hrsg.): R.F. Willis, B. Feuerbacher, B. Fitton, und C. Backx. ESA, Paris, France, 227 (1976).

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