Publikationen von Markus Heyde

Heyde, M., G. Thielsch, H.-P. Rust und H.-J. Freund: A reverse pendulum bath cryostat design suitable for low temperature scanning probe microscopy. Measurement Science & Technology 16 (3), 859–864 (2005).

Kulawik, M., H.-P. Rust, M. Heyde, N. Nilius, B.A. Mantooth, P.S. Weiss und H.-J. Freund: Interaction of CO molecules with surface state electrons on Ag(111). Surface Science 590 (2-3), L253–L258 (2005).

Kulawik, M., H.-P. Rust, N. Nilius, M. Heyde und H.-J. Freund: STM studies of ordered (√31x √31)R9° CO islands on Ag(111). Physical Review B 71 (15), 153405–1-153405–4 (2005).

Ritter, C., M. Heyde, B. Stegemann und K. Rademann: Contact-area dependence of frictional forces: Moving adsorbed antimony nanoparticles. Physical Review B 71 (8), 085405–1-085405–6 (2005).

Heyde, M., M. Kulawik, H.-P. Rust und H.-J. Freund: Double quartz tuning fork sensor for low temperature atomic force and scanning tunneling microscopy. Review of Scientific Instruments 75 (7), 2446–2450 (2004).

Gura, L., Z. Yang, H. Junkes, M. Heyde und H.-J. Freund: Going fast with STM imaging. In: Encyclopedia of Solid-Liquid Interfaces. (Hrsg.): K. Wandelt und G. Bussetti. Elsevier, Amsterdam, 612–626 (2023).

Freund, H.-J., M. Heyde, H. Kuhlenbeck, N. Nilius, T. Risse, S. Schauermann, T. Schmidt, S.K. Shaikhutdinov und M. Sterrer: Thin Oxide Films as Model Systems for Heterogeneous Catalysts. In: Springer Handbook of Surface Science. (Hrsg.): M. Rocca, T.S. Rahman, und L. Vattuone. Springer, Cham, 267–328 (2020).

Büchner, C., M. Heyde und H.-J. Freund: Transfer of 2D Silica Films. In: Encyclopedia of Interfacial Chemistry. (Hrsg.): K. Wandelt. Elsevier, Amsterdam, 360–366 (2018).

Büchner, C., L. Lichtenstein, M. Heyde und H.-J. Freund: The Atomic Structure of Two-Dimensional Silica. In: Noncontact Atomic Force Microscopy. (Hrsg.): S. Morita, F.J. Giessibl, E. Meyer, und R. Wiesendanger. (NanoScience and Technology, Vol. 3). Springer, Cham, 327–353 (2015).

Nilius, N., M. Sterrer, M. Heyde und H.-J. Freund: Atomic Scale Characterization of Defects on Oxide Surfaces. In: Defects at Oxide Surfaces. (Hrsg.): J. Jupille und G. Thornton. (Springer Series in Surface Sciences, Vol. 58)., 29–80 (2015).

Heyde, M., G.H. Simon und T. König: Study of thin oxide films with NC-AFM: Atomically resolved imaging and beyond. In: Noncontact Atomic Force Microscopy. (Hrsg.): S. Morita, F.J. Giessibl, und R. Wiesendanger. (NanoScience and Technology, Vol. 2). Springer, Berlin, 143–167 (2009).

Schwarz, U.D., C. Ritter und M. Heyde: Nanotribological studies by nanoparticle manipulation. In: Fundamentals of Friction and Wear on the Nanoscale. (Hrsg.): E. Gnecco und E. Meyer. (NanoScience and Technology). Springer-Verlag, Berlin Heidelberg New York, 561–582 (2007).

Junkes, H., H.-J. Freund, L. Gura, M. Heyde, P. Marschalik und Z. Yang: Experiment Control With Epics7 and Symmetric Multiprocessing on RTEMS. In: Proceedings of the 16th International Conference on Accelerator and Large Experimental Control Systems. JACoW, Geneva, 1762–1766 (2018).

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